それ故，証拠加重値手法は，仮説検定が独立適用の不要さを実証した場合には，ますます明瞭になりうる。例文帳に追加

Thus, a weight-of-evidence approach can become increasingly obvious when hypothesis testing demonstrates the unnecessary usage of independent application - 英語論文検索例文集

それ故，証拠加重値手法は，仮説検定が独立適用の不要さを実証した場合には，ますます明瞭になりうる。例文帳に追加

Thus, a weight-of-evidence approach can become increasingly obvious when hypothesis testing demonstrates the unnecessary usage of independent application. - 英語論文検索例文集

それ故，証拠加重値手法は，仮説検定が独立適用の不要さを実証した場合には，ますます明瞭になりうる。例文帳に追加

Thus, a weight-of-evidence approach can become increasingly obvious when hypothesis testing demonstrates the unnecessary usage of independent application - 英語論文検索例文集

それ故，証拠加重値手法は，仮説検定が独立適用の不要さを実証した場合には，ますます明らかになる。例文帳に追加

Thus, a weight-of-evidence approach can become increasingly obvious when hypothesis testing demonstrates the unnecessary usage of independent application - 英語論文検索例文集

状態保持バッファ13は、識別結果に従って、各オブジェクトについての仮説の状態(採択・棄却・検定中)を保持する。例文帳に追加

According to an identification result, a state holding buffer 13 holds a hypothesis state (adoption, rejection, and under testing) for each object. - 特許庁

比較スコア算出手段11、LLR測定部14および閾値識別部16は、各オブジェクトについての仮説検定を行い、各時系列データがどのオブジェクトのいずれに属するかの識別結果を出力する。例文帳に追加

The comparison score calculating means 11, an LLR measuring section 14 and a threshold identifying section 16 perform hypothesis testing for each object, and output an identification result to which object each time-series data belongs to. - 特許庁

例えばＵＭＴＳシステムの場合、電力制御情報は、比較的低い信頼性でのみ伝送されるため、実施例では、電力制御ファクタを推定するために統計的仮説検定法を使用する。例文帳に追加

In UMTS system, for example, electric power regulation information is transmitted with relatively low liability, so statistic assumption assay is used. - 特許庁

単一対象内欠陥周期推定部３２および複数対象内欠陥周期推定部３４は、個々の欠陥の特徴に関する欠陥情報、被検査対象の画像情報、および被検査対象に関する情報に基づいて、被検査対象における欠陥の周期性を、欠陥情報に対する統計的仮説検定により推定する。例文帳に追加

A defect cycle estimator in single object 32 and a defect cycle estimator in a plurality of objects 34 estimate periodicity of a defect in the object of inspection with statistical hypothesis to defect information based on defect information on features of the individual defects, picture information on the object of inspection and information on the object of inspection. - 特許庁